Тематический план

  • Общее

  • (магистерская программа, IV семестр)

     

    Тема 1. ВЗАИМОДЕЙСТВИЕ РЕНТГЕНОВСКОГО ИЗЛУЧЕНИЯ С ВЕЩЕСТВОМ.

     

     

    Взаимодействие рентгеновского излучения с веществом. Фотопоглощение, комптоновское рассеяние, сечения взаимодействий в зависимости от энергий. Когерентное рассеяние рентгеновского излучения.

     

     

    Тема 2. ДИНАМИЧЕСКАЯ ТЕОРИЯ РАССЕЯНИЯ РЕНТГЕНОВСКОГО ИЗЛУЧЕНИЯ НА КРИСТАЛЛАХ.

     

     

    Основное уравнение для внутренних полей, дисперсионная поверхность для двухволновой дифракции, эффект Борна. Маятниковое решение для интенсивностей прошедшей и дифрагированной волны, собственные ширины прошедшего и дифрагированного излучения.

     

     

     

     

    Тема 3. ОСНОВНЫЕ УЗЛЫ ЭКСПЕРИМЕНТАЛЬНЫХ УСТАНОВОК.

     

     

    Основные принципы построения рентгеновских монохроматоров – одно- и двухкристалльных. Энергетическое разрешение монохроматора, спектральный интервал, диаграммы Дю Монда для разных типов монохроматоров.

     

     

     

     

    Тема 4. ДЕТЕКТОРЫ ДЛЯ РЕГИСТРАЦИИ РЕНТГЕНОВСКОГО ИЗЛУЧЕНИЯ

     

     

    Основные типы (газонаполненные, полупроводниковые, сцинтилляционные), их основные параметры, примеры построения измерительных систем.

     

     

     

     

    Тема 5. ОСНОВНЫЕ ЭКСПЕРИМЕНТАЛЬНЫЕ МЕТОДЫ ИССЛЕДОВАНИЯ КОНДЕНСИРОВАННЫХ СРЕД НА ПУЧКАХ СИ

     

     

    Основные методы фотоэлектронной спектроскопии, области применения, экспериментальные установки, анализ экспериментальных данных из разных областей исследований.

     

     

     

     

    Тема 6. EXAFS СПЕКТРОСКОПИЯ

     

     

    Фактор поглощения. Метод EXAFS спектроскопии в структурных исследованиях, механизм возникновения тонкой структуры, основные экспериментальные схемы и основные экспериментальные результаты исследований в области материаловедения, биологии, физики твердого тела.

     

     

     

     

    Тема 7. МЕТОД ИНФРАКРАСНОЙ СПЕКТРОСКОПИИ

     

     

    Основные принципы, аппаратура, детекторы, методы исследования, основанные на рассеянии рентгеновского излучения,

     

     

     

     

    Тема 8. ДИФРАКЦИЯ И МАЛОУГЛОВОЕ РАССЕЯНИЕ.

     

     

    Анализ структуры кристалла. Метод Ритвельда в структурном анализе. Критерии качества обработки дифракционной картины. Анализ локальной структуры. Внутренние механические напряжения. Макро- и микронапряжения. Особенности дифракционного метода их определения

     

     

     

     

    Тема 9. ИСПОЛЬЗОВАНИЕ СИ В ПРИКЛАДНЫХ ЦЕЛЯХ.

     

     

    Использование СИ для рентгенофлуоресцентного анализа, схемы построения, пределы регистрации. Использование СИ в микроэлектронике и медицине.

     

     

    Литература

    1. Тернов И.М., Михайлин В.В., Синхротронное излучение, Энерго-атомиздат, 1986.

    2. Синхротронное излучение, свойства и применение. Под редакцией К. Кунца, М., Москва, «Мир», 1981.

    3. Г.В.Фетисов, Синхротронное излучение, методы исследования структу-ры веществ, Москва, «Физматлит», 2007.